전자 포획

이 기사는 방사성 붕괴 모드에 관한 것이다. 질량 분석법에 사용되는 단편화 방법은 전자 포획 이온화를 참조하십시오. 가스 크로마토 그래피에 사용되는 검출기에 대해서는 전자 포획 해리를 참조하십시오.

Electron capture(K-electron capture,또한 K-캡처,또는 L-electron capture,L-capture)프로세스에서는 양성자이 풍부한 핵의 전기적으로 중성이 원자 흡수하는 안 atomic electron,에서 일반적으로 K L 또는 전자 껍질입니다. 이 과정은 이로써 핵 양성자를 중성자로 변화시키고 동시에 전자 중성미자의 방출을 일으킨다.

방식의 두 가지 유형의 전자니다. 상단:핵은 전자를 흡수합니다. 왼쪽 아래:외부 전자가”누락 된”전자를 대체합니다. 두 전자 껍질 사이의 차이에 에너지가 동일한 x-레이가 방출됩니다. 오른쪽 아래:오거 효과에서 외부 전자가 내부 전자를 대체 할 때 흡수 된 에너지는 외부 전자로 전달됩니다. 외부 전자는 원자에서 배출되어 양의 이온을 남깁니다.

p
+
e

n
+
ν
e

이 하나의 방출 중성미자 전달체 부패 에너지,이 하나의 특징은 에너지입니다. 유사하게,중성미자 방출의 운동량은 딸 원자가 단일 특성 운동량으로 반동하게한다.

결과 딸 핵종,그것이 흥분 상태에 있다면,그 지상 상태로 전환됩니다. 일반적으로 감마선은이 전이 동안 방출되지만 핵 탈 여기 또한 내부 변환에 의해 일어날 수 있습니다.

는 다음을 캡처의 내부 전자부터 원자,외부 전자 대체 전자는 캡처하고 하나 이상의 특성 X-선의 광양자가 방출되는 이 과정입니다. 전자 캡처 또한 때때로에서 결과 Auger 효과는 곳,전자에서 방출되는 원자의 전자 껍질로 인해 사이의 상호 작용 원자의 전자가 추구하는 과정에서 더 낮은 에너지를 전자 상태입니다.

전자 포획에 따라 원자 번호가 1 씩 감소하고 중성자 수가 1 씩 증가하며 질량수에 변화가 없다. 간단한 전자 캡쳐 자체적으로 결과에서 중립적인 원자의 손실 때문에,전자에서 전자 껍질에 의해 균형의 손실을 긍정적인 핵니다. 그러나,양의 원자 이온은 추가 오거 전자 방출로 인해 발생할 수있다.

전자 포획은 네 가지 근본적인 힘 중 하나 인 약한 상호 작용의 예입니다.

전자 캡처를 기본 부패 모드로 동위원소의 상대적 충만함의 양성자,핵에만으로 불충분한 에너지 차이는 동위원소와 그 미래의 딸(는 동중체와 함께 하나 덜 긍정적인 요금)에 대한 핵종 부패 방출하여 양전자. 전자 캡처하는 동안 부패 모드에 대한 방사성 동위 원소가 있는 충분한 에너지를 부여 양전자 방출이 있습니다. 약한 힘에 의해 매개되는 기본 핵 과정이 동일하기 때문에 전자 포획은 때때로 베타 붕괴의 한 유형으로 포함됩니다. 원자 물리학,베타 부패은 유형의 방사성 붕괴에는 베타 선(fast 에너지 전자 또는 양전자)및 중성미자에서 방출되는 원자핵.이 용어는 일반적으로 양성자와 전자 antineutrino 의 상호 작용을 의미하지만 전자 포획은 때때로 역 베타 붕괴라고합니다.

경우의 에너지 차이가 부모 원자와 딸 아날로그 전자기구,디지털 전자기보다 1.022MeV,양전자 방출은 금지되어로 충분하지 않 부패 에너지 사용을 허용하고 따라서 전자를 유일한 부패 모드입니다. 예를 들어,루비듐-83(37 양성자,46 중성자)이 감퇴하는 크립톤-83(36 양성자,중성자 47)전적으로 전자를 캡처(에너지 차이나 부패,에너지 대 0.9MeV).

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